日立镀层测厚仪、金镍测厚仪X-Strata920

日立镀层测厚仪、金镍测厚仪X-Strata920

牛津镀层测厚仪又叫金镍测厚仪、金厚测厚仪或者是X-RAY测厚仪，它是属于X射线荧光镀层厚度测量仪，广泛应用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析；是各类电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。

镀层测厚仪X-Strata920系列具有高性价价比，有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量、测量时间短等特点；具有高生产力、高再现性，能有效控制产品质量，节约电镀成本。

现在小编要给大家讲解一下牛津日立X-Strata920这款测厚仪，以上为产品的图片：

一、日立镀层测厚仪、金镍测厚仪X-Strata920产品优势：

 Starata920镀层测厚仪与以往传统测厚仪不同，可以无损测量样品，并通过x射线可以测量5层镀层（包含底材）测量时间10s即可，并达到了三步即可获得测量结果。

·高计数率探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供佳灵敏度。

二、日立镀层测厚仪、金镍测厚仪X-Strata920全自动样品台

·Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴自动控制，可提供对样品的自动和编程控制，多点测量，鼠标控制样品台移动，地定位样品测量点，测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式，样品台移动行程：178×178mm，样品台尺寸：宽610×深560mm，大样品高度33mm，仪器外形尺寸：宽610×深1037×高375mm(不含电脑和显示器)。

三、日立镀层测厚仪、金镍测厚仪X-Strata920测试原理：

·对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

·X射线系统

垂直下照式X射线光学系统，50W(50kV，1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管，高计数率，改善分析精度，到达更小的激发X射线束斑。

·准直器

单准直器组件；多准直器自动控制组件：多可同时装配6种规格的准直器；圆形、矩形多种规格尺寸任选（红色常用）。

四、日立镀层测厚仪、金镍测厚仪X-Strata920特点

1.测量元素范围：钛Ti22---铀U92。

2.测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线。

3.测量精度高、稳定性好，测量结果至μin。

4.快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果。

5.可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析。

6.进行贵金属检测，如Au karat评价。

7.材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析。